בלוגים

 Spectroscopy – XPS)

ספקטרוסקופיית פוטואלקטרונים של קרני X, או בקיצור XPS, היא שיטה אנליטית מתקדמת לחקר פני שטח של חומרים. השיטה מבוססת על עקרון פיזיקלי פשוט: כאשר קרני X פוגעות במשטח חומר, הן גורמות לפליטת פוטואלקטרונים. ניתוח האנרגיה הקינטית של אותם אלקטרונים מספק מידע מפורט על ההרכב הכימי והמיקום האלקטרוני של האטומים במשטח.

למה XPS כל כך חשובה?

XPS משמשת כלי מרכזי בתחומי מדע החומרים, הנדסה, כימיה ופיזיקה. היא מאפשרת:

• זיהוי יסודות בשכבה העליונה של החומר.

• קביעה של אחוזי ריכוז של יסודות שונים.